** 참고 자료 및 출처
- Light tools 기초 모던 하이테크 (주병운 교수님)
1. Model 그리기 (CAD system을 활용)
2. Model 파라미터 넣기 (파라미터의 정확도에 따라 해석 정확도가 결정됨)
2-1. 광원 설정 (Source List)
1) 광 계측 장비
출사광 측정기(EZ-contrast), Hz-meter, 분광기, 면 휘도 측정기, BSDF 측정기 등
2) 미세 패턴 형상 계측 장비
SEM, 광학현미경, 3D 표면 형상 측정기 등
** Fresnel 방정식 (Fresnel Equation) : Fresnel 계면은 균일하고 평평하다고 가정
: 빛이 한 매질에서 다른 매질로 투과할 때 계면에서 반사 또는 투과 진폭을 입사 진폭으로 나눈 값
* Flat 광학 계면 처리 (ex. 도광판) : Smooth optical - Fresnel loss로 설정
>> 사용자가 설정한 반사/투과 값을 Fresnel 반사, Fresnel 투과 값으로 대체해줌
* 프레넬 방정식 계산기 : https://www.fxsolver.com/solve/
1) Privary wave (P파) : 전기장이 입사 평면에 수평인 파동
2) Secondary wave (S파) : 전기장이 입사 평면에 수직인 파동
3) Evanescent wave (소멸파) : 경계면으로부터 거리가 증가함에 따라 급격히 사라지는 파
광학 해석은 다수 면에서의 확산광(Scattering)의 합으로 결정
확산광을 이용하는 것이므로 반드시 실험에 근거한 모델 파라미터를 추출해내야 함
** BSDF : Bidirectional Scattering Distribution Function = BRDF + BTDF
- BRDF : Bidirectional Reflective Distribution Function
- BTDF : Bidirectional Transmissive Distribution Function1) BSDF 결정 인자
- 입사각(Angle of incidence : AOI)
- 빛의 파장
- 광학 재료의 굴절율
- 빛의 입사 평면
- 빛의 입사 방향 (Front/ Back)
2) Light tools에서 BSDF 구현
3) BSDF 측정
- 측정기 : BSDF 계측기 (RT300S)
- 측정 대상 : White reflection film
- 측정 범위
1) Incident angle
- Polar : =0 ~ 70˚
- Azimuth : = 0 ~ 360˚
2) Sample Stage : 150mm in diameter (Max. 150 x 150 mm)
3) Light Sources
- Tungsten Halogen
- Laser : 645 and 530 nm
4) Illumination Spot Size
- TunstenHalogen : Less than 8 mm
- Laser Source : Less than 1 mm
- 측정 결과** 비교 : Measured BSDF of diffuse film
3. Receiver 달기
- 조도(Illuminance) : Default
- 휘도(Luminance) : Spatial lum meter (크기가 너무 크지 않게 함)
- 각 휘도(Angular luminance) : Angular lum meter (분해능이 너무 높지 않게)
- 광도(Intensity)
** Save ray data 해제 : 시뮬레이션 속도 개선됨
4. 해석(Simulation) 실행
- Ray Trace - Simulation input.. - Enable Forward Simulation - Begin forward simulation
5. 해석의 결과 : Receiver (조도/휘도/각 휘도/광도)
- Analysis에서 각각의 Receiver를 눌러 확인
6. 결과 저장 후 측정값과 비교하기
7. 정리 및 토의
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